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Diese hochgenauen, haltbaren Referenzplatten setzt man in Labor-Interferometern und in der Qualitätssicherung ein. Um eine gute Langzeitstabilität und hohe Genauigkeit zu gewährleisten, werden die Optiken aus Fused Silica gefertigt. Beide Flächen haben eine Ebenheitsabweichung unter l/10. Ein präziser Keil zwischen Vorder- und Rückseite eliminiert interne Streifenmuster. Jede Referenzplatte wird mit einem Interferogramm geliefert. |
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Technische Daten
| Material | UV Fused Silica |
| Oberflächenebenheit | £l/10 bei 632,8 nm über der nutzbaren Apertur |
| Nutzbare Apertur | >zentrale 80% des Durchmessers |
| Durchmessertoleranz | +0/-0,25 mm |
| Dickentoleranz | ±0,5 mm |
| Keil | 30 ±5 Bogenmin. |
| Fasen | 25,4 mm: 0,25–0,76 mm Stirnseitenbreite x 45° ±15°
50,8 mm: 0,38–1,14 mm Stirnseitenbreite x 45° ±15° |
| Reinigung | Jede nicht reibende Reinigungsmethode, am besten mit Aceton oder Isopropylalkohol
und Linsenpapier (Unknown type Newport.Step.Product.XRefElement) |
| Zerstörschwelle | 5 MW/cm2 CW, 10 J/cm2 bei 10 ns Pulsdauer, typisch |
| | Model | Description |
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10QB20
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Interferometer Flat, UV Fused Silica, 25.4 Dia, 9.52mm Thick, λ/10, 10-5
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20QB20
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Interferometer Flat, UV Fused Silica, 50.8 Dia, 12.7mm Thick, λ/10, 10-5
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