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Les analyseurs de faisceau laser série KEP sont une extension de nos analyseurs de faisceau laser qui permettent la reconstruction de l'intensité 3D à partir de caméras CCD tout en mesurant de très petits points à une haute résolution et sur une plage dynamique considérable.
La technique de mesure est basée sur une technologie de lames optiques à balayage multiple, combinée à une reconstruction d'image tomographique pour la création de l'affichage 2D/3D. Quand la bobine s'enroule, les lames coupent à travers le faisceau sur un plan orthogonal en direction de la propagation. Un vaste détecteur stationnaire à l'intérieur de la bobine enroulée mesure l'intensité de la lumière. Pour l'atténuation, si nécessaire, un filtre optique intégré sans distorsion est inséré entre la bobine d'enroulage et le détecteur. Chaque lame de balayage est orienté à un angle différent sur la bobine et se déplace sur la voie du faisceau dans une direction différente au fur et à mesure de la rotation de la bobine. En conséquence, au cours d'une simple rotation de la bobine, l'instrument génère un ensemble de courbes de profil, représentant chacun le profil d'intensité du faisceau depuis une direction différente. Ces données servent d'entrée à l'algorithme de reconstruction tomographique pour générer le profil d'intensité 2D/3D du faisceau.
Les analyseurs de faisceau sont fournis avec deux types de têtes de mesure :
Le modèle KEP-7 utilise sept lames, d'où une prise de mesure plus précise de la forme et des dimensions véritables du faisceau en rassemblant les données des 7 scans, tandis que le modèle KEP-3 utilise seulement trois lames et est recommandé pour les plus petits faisceaux ainsi que pour les mesures de faisceaux de type Gaussien. Plus il y a de lames, meilleur est le niveau de détail obtenu. Pour une distribution de faisceau significativement non-Gaussienne, le KEP-7 reconstruirait un plan correspondant étroitement au profil réel du faisceau.
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Avantages supplémentaires |
Interface informatique PCI et logiciels d'applications fonctionnant sous Windows- Systèmes à 3 ou à 7 lames pour optimiser la résolution et la taille du faisceau
- Mode graphique pour contrôler la largeur du faisceau ou position/heure
- Fonctions logicielles étendues
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Le test Bon/Mauvais peut être effectué sur des résultats mesurés pour acceptation dans le cadre de tolérances spécifiques.- La consignation de données dans un texte ou un fichier Excel
- Les fichiers Live Snapshot se réexécutent pour une analyse complète des résultats
- Paramétrage moyen
- Zooms
- Transmission de données via une liaison RS-232 dans un autre ordinateur
- Les images d'écran peuvent être enregistrées comme fichiers BMP/JPG ou imprimées
- Logiciel ActiveX pour contrôler le matériel système du programme d’application de l'utilisateur
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Applications |
Alignement de faisceau - Contrôle en ligne
- Analyse de Gauss
- Mesure de position du faisceau
- Optimisation et contrôle de qualité du faisceau laser
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Spécifications
| Référence | / | / | / | / |
| Type de détecteur | Silicium, enrichi UV | Silicium | Arséniure de gallium indium | Arséniure d'Indium Gallium |
| Taille du détecteur (mm) | 10 x 10 mm | 10 x 10 mm | ø3 mm | ø5 mm |
| Réponse spectrale (nm) | 190 - 1100 | 350 - 1100 | 800 - 1800 | 800 - 1800 |
| Résolution de la largeur du faisceau (mm) | 0,1 et 1,0 ( faisceaux <100 mm et >100 mm, respectivement) |
| Précision de la largeur du faisceau (%) | ±2 |
| Précision de la mesure de puissance (%) | ±5 et ±10 % de la valeur (pour versions UV/SL et IG, respectivement) |
| Plage de puissance | 10 mW à 1 W et 10 mW à 5 mW (pour versions UV/SL et IG, respectivement) |
| Puissance de Saturation | 0.1 W/cm2 sans filtre, 20 W/cm2 filtre NG9 (version UV & SL uniquement) W |
| Résolution, Puissance (mW) | 0,1 |
| Précision de la position (mm) | ±15 |
| Résolution de la position (mm) | 1 |
| Cadence d'Echantillonnage (Hz) | 5 |
| Interface ordinateur | Carte PCI P&P demi-taille |
| Conditions d'utilisation avec PC (Minimum) | Pentium III, 128 Mo de RAM, 10 Mo d'espace libre sur le disque, carte AGP 8 Mo, CD ROM, emplacement 1/2-PCI, Windows 98/ME/NT 4.0/2000 ou XP |
| Poids (g) | 56 |
| | Model | Description |
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KEP-3-IR3
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Knife Edge Beam Profiler, 3 Blades, 3mm Dia. InGaAs Detector, 800-1800 nm
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KEP-3-IR5
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Knife Edge Beam Profiler, 3 Blades, 5mm Dia. InGaAs Detector, 800-1800 nm
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KEP-3-SL
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Knife Edge Beam Profiler, 3 Blades, 10 x 10mm Si Detector, 350-1100 nm
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KEP-3-UV
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Knife Edge Beam Profiler, 3 Blades, 10 x 10mm UV-Si Detector, 190-1100 nm
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KEP-7-IR3
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Knife Edge Beam Profiler, 7 Blades, 3mm Dia. InGaAs Detector, 800-1800 nm
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KEP-7-IR5
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Knife Edge Beam Profiler, 7 Blades, 5mm Dia. InGaAs Detector, 800-1800 nm
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KEP-7-SL
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Knife Edge Beam Profiler, 7 Blades, 10 x 10mm Si Detector, 350-1100 nm
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KEP-7-UV
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Knife Edge Beam Profiler, 7 Blades, 10 x 10mm UV-Si Detector, 190-1100 nm
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